GCSTD-A

        相对介电常数测量仪及物质衰减测量仪

介电常数及介质损耗测试仪应用介绍

一、 概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据.
仪器的技术指标
   1．Q值测量
   a．Q值测量范围：2～1023。
   b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至*低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为**。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

表面电阻率及物质损耗率测式仪应用讲解 1．Q值测试    a．Q值估测使用范围：2～1023。    b．Q值量限分档：30、100、300、1000、自然换档或带有大量手动换档。 2．电感侧量条件：14.5nH~8.14H

3．滤波电容測量：1~ 460

 5．Q完成指示箭头预置特点       预置面积：5～1000。    6．Q表常规上班要求    a.  的环境工作温度：0℃～+40℃；    b．相对来说空气湿度：<80％；    c．电原：220V±22V，50Hz±2.5Hz。    7．另一      a．需求效率：约25W；    b．净含量：约7kg；    c. 大小图大小：（l×b×h）mm：380×132×280。

   8．好产品显卡配置：

a.測試机箱一种；

b.电感9只；

c.冲压模具一台

   9、试样规格：直径为为Φ50mm/Φ38mm/100MM  板厚为0.5-15MM

介电常数及介质损耗测试仪应用介绍